產品詳情
PI 用于掃描探針顯微鏡的動態納米定位器P-363 PicoCube XY(Z)
用于 AFM / SPM 的超高性能閉環掃描儀
用于生物/納米技術的緊湊型操作工具
共振頻率 9.8 kHz，用于特別快速的掃描
導向誤差自動補償的平行測量技術
分辨率 50 皮米
行程范圍 5 μm × 5 μm × 5 μm
應用領域
掃描探針顯微鏡
原子力顯微鏡
掃描和篩選
零間隙撓性導軌帶來高導向精度
撓性導軌無需維護、摩擦和磨損，也不需要潤滑。它們的剛度允許高負載能力，并且它們對沖擊和振動不敏感。它們是 真空兼容的，可在很寬的溫度范圍內工作。
由于平行位置測量，在納米范圍內具有高跟蹤精度
所有的自由度都是根據一個固定的參考來測量的。軸之間不需要的串擾可以實時（取決于帶寬）主動補償（主動引導）。即使在動態操作中，也能在納米范圍內實現高跟蹤精度。
電容式傳感器的亞納米分辨率
電容式傳感器以亞納米分辨率進行測量，無需接觸。它們保證了出色的運動線性度、長期穩定性和 kHz 范圍內的帶寬。
自動配置和快速組件更換
機械裝置和控制器可根據需要組合并快速更換。所有伺服和線性化參數都存儲在機械裝置的 D-sub 連接器的 ID 芯片中。每次打開控制器時，數字控制器的自動校準功能都會使用此數據。
PI 用于掃描探針顯微鏡的動態納米定位器P-363 PicoCube XY(Z)
用于 AFM / SPM 的超高性能閉環掃描儀
用于生物/納米技術的緊湊型操作工具
共振頻率 9.8 kHz，用于特別快速的掃描
導向誤差自動補償的平行測量技術
分辨率 50 皮米
行程范圍 5 μm × 5 μm × 5 μm
應用領域
掃描探針顯微鏡
原子力顯微鏡
掃描和篩選
零間隙撓性導軌帶來高導向精度
撓性導軌無需維護、摩擦和磨損，也不需要潤滑。它們的剛度允許高負載能力，并且它們對沖擊和振動不敏感。它們是 真空兼容的，可在很寬的溫度范圍內工作。
由于平行位置測量，在納米范圍內具有高跟蹤精度
所有的自由度都是根據一個固定的參考來測量的。軸之間不需要的串擾可以實時（取決于帶寬）主動補償（主動引導）。即使在動態操作中，也能在納米范圍內實現高跟蹤精度。
電容式傳感器的亞納米分辨率
電容式傳感器以亞納米分辨率進行測量，無需接觸。它們保證了出色的運動線性度、長期穩定性和 kHz 范圍內的帶寬。
自動配置和快速組件更換
機械裝置和控制器可根據需要組合并快速更換。所有伺服和線性化參數都存儲在機械裝置的 D-sub 連接器的 ID 芯片中。每次打開控制器時，數字控制器的自動校準功能都會使用此數據。
PI 用于掃描探針顯微鏡的動態納米定位器P-363 PicoCube XY(Z)
