產品詳情
今まで困難とされてきた低インクダンス?コイルの試験が可能
DWXは、高度化する電子機器に使われるコイル部品の、小型化?高周波數化に伴う、低インダクタンス?コイルの試験に対応させた試験機で、高速スイッチを搭載したインパルス電源、高性能入力回路、高速A/Dサンプリング回路、などの採用により、今まで困難とされていた低インダクタンス?コイルの試験が可能に芯ります。
抵抗分圧による波形の忠実度および放電検出感度の向上
インパルス波形の入力回路には、高性能な抵抗分圧回路を採用するととで、波形ひすみの無い忠実芯波形を得ることができ、波形判定能力および放電検出感度が向上しました。
（＊弊社DW?DWSシリーズ（Fタイプは除く）と比較して検出感度が向上しています。）
高速lOOMHz?8Kポイント?サンプリングにより高感度、高精度試験を実現
高速A/Dサンプリングにより、低インダクタンス?コイルの極短インパルス応答を確実に捕らえると共に、8Kポイン卜?サンプリングによる高精細データ判定により、微少芯波形遣いも的確に捉えることができます。
放電量検査にLaplacian（ラプラシアン）アルゴリズムを採用、サブ?ウインドゥに解りやすく表示
高電圧インパルスにより発生する放電成分を、電圧波形からラプラシアン演算を用いた波形解析により抽出し、サブ?ウインドウにパーグラフ表示する事で、放電試験を視覚的に解りやすく表示
8.4インチ?カラーTFT液晶畫面により、くっきり見やすい畫面
AREA,DIF-AREA,FLUTTERなど従來からのレヤ?ショート判定機能の伝承
波形判定には、AREA判定（面積比較）?DIF-AREA判定（波形差面積比較）?FLUTTER量検出（放電量の検出）?LAPLACIAN量検出（放電量の検出）の検査方法を組み合わせ、あらゆるコイルについて試験する事ができます。
コンパクトフラッシュ?メモリーカード?スロット標準裝備により、マスタデータは無限に拡張可能
インパルス巻線試験機の概要
DWXは、高度化する電子機器に使われるコイル部品の、小型化?高周波數化に伴う、低インダクタンス?コイルの試験に対応させた試験機で、高速スイッチを搭載したインパルス電源、高性能入力回路、高速A/Dサンプリング回路、などの採用により、今まで困難とされていた低インダクタンス?コイルの試験が可能に芯ります。
抵抗分圧による波形の忠実度および放電検出感度の向上
インパルス波形の入力回路には、高性能な抵抗分圧回路を採用するととで、波形ひすみの無い忠実芯波形を得ることができ、波形判定能力および放電検出感度が向上しました。
（＊弊社DW?DWSシリーズ（Fタイプは除く）と比較して検出感度が向上しています。）
高速lOOMHz?8Kポイント?サンプリングにより高感度、高精度試験を実現
高速A/Dサンプリングにより、低インダクタンス?コイルの極短インパルス応答を確実に捕らえると共に、8Kポイン卜?サンプリングによる高精細データ判定により、微少芯波形遣いも的確に捉えることができます。
放電量検査にLaplacian（ラプラシアン）アルゴリズムを採用、サブ?ウインドゥに解りやすく表示
高電圧インパルスにより発生する放電成分を、電圧波形からラプラシアン演算を用いた波形解析により抽出し、サブ?ウインドウにパーグラフ表示する事で、放電試験を視覚的に解りやすく表示
8.4インチ?カラーTFT液晶畫面により、くっきり見やすい畫面
AREA,DIF-AREA,FLUTTERなど従來からのレヤ?ショート判定機能の伝承
波形判定には、AREA判定（面積比較）?DIF-AREA判定（波形差面積比較）?FLUTTER量検出（放電量の検出）?LAPLACIAN量検出（放電量の検出）の検査方法を組み合わせ、あらゆるコイルについて試験する事ができます。
コンパクトフラッシュ?メモリーカード?スロット標準裝備により、マスタデータは無限に拡張可能
インパルス巻線試験機の概要
