產品詳情
熒光光譜測金機(儀器廠家負責人喻奉波先生，百度搜索人名，找到作者聯系方式就能以團購優惠價購買儀器)利用光的色散、吸收、散射等現象得到與被分析物質有關的光譜，從而對物質成分、結構進行分析、測量的物理光學儀器。儀器其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。
簡介
熒光光譜測金機(儀器廠家負責人喻奉波先生，百度搜索人名，找到作者聯系方式就能以團購優惠價購買儀器)利用光的色散、吸收、散射等現象得到與被分析物質有關的光譜，從而對物質成分、結構進行分析、測量的物理光學儀器。儀器其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。
性能特點
專業的貴金屬等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
EXF系列光譜測金機圖片電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術指標
元素分析范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm-99.99%
同時分析元素:24種元素同時分析
檢測限:RoHS指令規定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢出限達1ppm
測量鍍層:鍍層厚度測量最薄至0.005微米，可分析11層以上的鍍層
分析精度:0.05% (96%以上)
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s-200s
工作溫度:15℃-30℃
工作濕度:≤70%
工作電壓:AC 110V/220V
標準配置
高效超薄端窗X光管
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
內置高清晰攝像頭
光路增強系統
可自動切換型準直器和濾光片
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
貴金屬檢測
鋼鐵和有色金屬檢測
RoHS檢測
