產品詳情
軍工電子元器件二次篩選
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發現假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環境應加速試驗及測試技術，對整批電子元器件進行全批次非破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產品是否合格接收，提高產品使用可靠性。
元器件篩選的目的：
1.剔除早起失效產品。
2.提高產品批次使用的可靠性。
元器件篩選的特點：
1.篩選試驗為非破壞性試驗。
2.不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。
3.對批次產品進行*篩選。
4.篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
二次篩選測試項目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、
X射線非破壞性檢查。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性示
蹤檢漏、濕度試驗。
3.環境應?篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度
沖擊、綜合應力。
元器件篩選覆蓋范圍：
元件類：電阻、電容、電感、敏i感元件、磁性元件、濾波器、晶體振蕩器。
器件類：光電耦合器、二極管、晶體管、集成電路。
機電類：繼電器、開關。
線纜類：連接器、電線電纜。
廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業部電子602計量站，歷經五十余年的技術沉淀，持續變革創新，實現跨越式發展，成為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計量檢測機構，專業提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統研發等技術服務和產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政f和工業眾多權威機構的認可資質。
我們的設備能力：
1.老煉需要的設備：
集成電路高溫動態老煉系統、混合集成電路高溫動態老煉系統
電源模塊高溫老煉檢測系統、分立器件綜合老煉檢測系統
*立器件間歇壽命試驗系統、電容器高溫老煉檢測系統
繼電器低電平壽命篩選系統、電容高溫反偏老煉系統
二極管恒流老煉系統。
2.電測試需要的設備：
阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀
高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器
頻譜分析儀。
3.目檢、外觀檢查需要設備：
光學顯微鏡、金相顯微鏡。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。
覆蓋標準：
GJB128A-97半導體分立器件試驗方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
GJB 7243-2011軍電子元器件篩選技術要求
GJB 40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G
依據各行業及領域客戶的需求，廣電計量精心打造出涵蓋計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測、化學分析、食品農產品檢測、環保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢?業信息化系統開發、測控產品研發的一站式計量檢測技術服務和產品，貫穿企業品質管控全過程。
業務聯系信息：
張經理：186-2090+8348;
郵箱：zhanghp grgtest.com
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發現假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環境應加速試驗及測試技術，對整批電子元器件進行全批次非破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產品是否合格接收，提高產品使用可靠性。
元器件篩選的目的：
1.剔除早起失效產品。
2.提高產品批次使用的可靠性。
元器件篩選的特點：
1.篩選試驗為非破壞性試驗。
2.不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。
3.對批次產品進行*篩選。
4.篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
二次篩選測試項目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、
X射線非破壞性檢查。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性示
蹤檢漏、濕度試驗。
3.環境應?篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度
沖擊、綜合應力。
元器件篩選覆蓋范圍：
元件類：電阻、電容、電感、敏i感元件、磁性元件、濾波器、晶體振蕩器。
器件類：光電耦合器、二極管、晶體管、集成電路。
機電類：繼電器、開關。
線纜類：連接器、電線電纜。
廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業部電子602計量站，歷經五十余年的技術沉淀，持續變革創新，實現跨越式發展，成為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計量檢測機構，專業提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統研發等技術服務和產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政f和工業眾多權威機構的認可資質。
我們的設備能力：
1.老煉需要的設備：
集成電路高溫動態老煉系統、混合集成電路高溫動態老煉系統
電源模塊高溫老煉檢測系統、分立器件綜合老煉檢測系統
*立器件間歇壽命試驗系統、電容器高溫老煉檢測系統
繼電器低電平壽命篩選系統、電容高溫反偏老煉系統
二極管恒流老煉系統。
2.電測試需要的設備：
阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀
高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器
頻譜分析儀。
3.目檢、外觀檢查需要設備：
光學顯微鏡、金相顯微鏡。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。
覆蓋標準：
GJB128A-97半導體分立器件試驗方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
GJB 7243-2011軍電子元器件篩選技術要求
GJB 40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G
依據各行業及領域客戶的需求，廣電計量精心打造出涵蓋計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測、化學分析、食品農產品檢測、環保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢?業信息化系統開發、測控產品研發的一站式計量檢測技術服務和產品，貫穿企業品質管控全過程。
業務聯系信息：
張經理：186-2090+8348;
郵箱：zhanghp grgtest.com
