低溫試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)?zāi)康模?

可程式高低溫濕度試驗(yàn)箱測(cè)試目的用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的環(huán)境適應(yīng)性能力。通過該試驗(yàn)，可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下可能出現(xiàn)的脆化、裂紋、變形、功能失效等問題，從而為產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供依據(jù)。

低溫試驗(yàn)?zāi)芤l(fā)產(chǎn)品哪些故障

材料的硬化和脆化；

在對(duì)溫度瞬變的響應(yīng)中，不同材料產(chǎn)生不同程度的收縮，以及不同零部件的膨脹率不同，引起零部件相互咬死；

由于粘度增加,潤(rùn)滑油的潤(rùn)滑作用和流動(dòng)性降低；

變壓器和機(jī)電部件的性能改變；

破裂與龜裂、脆裂、沖擊強(qiáng)度改變和強(qiáng)度降低；

可程式高低溫濕度試驗(yàn)箱核心參數(shù)

低溫溫度點(diǎn)、溫度穩(wěn)定時(shí)間、溫度保持時(shí)間、溫度變化速率。

低溫試驗(yàn)項(xiàng)目及條件

 低溫啟動(dòng)試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在溫度開始穩(wěn)定后對(duì)受試產(chǎn)品進(jìn)行通電工作并運(yùn)行正常。

示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下穩(wěn)定2小時(shí)后，上電工作2小時(shí)，試驗(yàn)箱恢復(fù)至常溫+25℃保持1小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。

低溫工作試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在整個(gè)低溫試驗(yàn)期間連續(xù)通電工作并運(yùn)行正常。

示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下，連續(xù)通電工作運(yùn)行4小時(shí),試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。

低溫貯存試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在試驗(yàn)期間不通電，試驗(yàn)結(jié)束后通電測(cè)試功能。

示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下，斷電貯存24小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。低溫試驗(yàn)檢測(cè)結(jié)果判定

試驗(yàn)期間或試驗(yàn)后，受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變，受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。

低溫試驗(yàn)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》。

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