產(chǎn)品詳情
SWT-7000III SWT-7100III SWT-7200III
SWT-8000 SWT-8100 SWT-8200 SWT-8300
SWT-8000II SWT-8100II SWT-8200II SWT-8300II
SWT-9000 SWT-9100 SWT-9200 SWT-9300 SWT-9000F SWT-9000N
FN-325 FE-2.5 FE-2.5L FE-2.5LWA FE-0.6PEN FE-10 FE-20
NFE-2.0 NFE-2.0L NFE-06 NFE-8
| ◆ | 測定用途に合わせ接続プローブの選択が可能。 |
| ◆ | LCD畫面上に操作手順をガイド表示。 |
| ◆ | 大容量の測定値メモリ（9200：20,000點、9300：40,000點）。 |
| ◆ | 検量線登録による簡単呼び出し測定。 |
| ◆ | 上下限値設(shè)定、統(tǒng)計演算機能內(nèi)蔵。 |
| ◆ | USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。 |
| ◆ | 特定小電力無線出力內(nèi)蔵（9300）。 |
| 用 途 | |
| ◆ | 塗裝／ライニング／メッキ |
| ◆ | アルマイトなどの絶縁性皮膜 |
| 仕 様 | |
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SWT系列探頭可互換。
◆ 兩用型 : FN-325
◆ 鐵材用 : Fe 系列
◆ 非鐵材 : NFe 系列
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探測頭型號 |
FN-325 |
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測量方式 |
電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動識別） |
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測量范圍 |
鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm |
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表示分辨率 |
1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通） 0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通） 0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材） |
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測量精度 （平滑表面） |
0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通） 或者是指示值的±2%以內(nèi) 101μm～3.00mm:±2%以內(nèi)（鐵底材） 101μm～2.50mm:±2%以內(nèi)（非鐵底材） |
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探測部 |
1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g |
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選擇產(chǎn)品 |
V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
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附屬品 |
標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用） |
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測量對象 |
鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、 電鍍（電解鎳除外）等 非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等 一般較普遍的測量物用 |
鐵材金屬用探測頭（1）（Fe）
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型號 |
Fe-2.5/2.5L |
Fe-2.5LwA |
Fe-0.6Pem |
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測量方式 |
電磁感應(yīng)式 |
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測量范圍 |
0～2.50mm |
0～600μm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm |
1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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測量精度 （平滑面） |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內(nèi) 101μm～2.50mm：±2% |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內(nèi) 101μm～600μm：±2% |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm |
1點定壓接觸式 測量部：約20×57mm 全長：約550～ 1.550mm （伸縮式） |
1點定壓接觸式 Φ5.6×94mm |
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選擇產(chǎn)品 |
V形套頭/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
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附屬品 |
標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） |
標準校正片 試驗用零校正板（鐵用） 收納袋子 |
標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） |
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測量對象 |
鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等 |
鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。 |
鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。 |
鐵材金屬用探測頭（2）（Fe）
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型號 |
Fe-10 |
Fe-20 |
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測量方式 |
電磁感應(yīng)式 |
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測量范圍 |
0～10mm |
0～20mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm
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1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm |
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測量精度 （平滑面） |
0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%） 3.01mm：顯示值的±3% |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm |
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選擇產(chǎn)品 |
— |
— |
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附屬品 |
標準校正片、試驗用零校正板（鐵用） |
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測量對象 |
鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用 |
鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用 |
探測頭要根據(jù)需要另外購買。
非鐵材金屬用探測頭（NFe）
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型號 |
NFe-2.0/NFe-2.0L |
NFe-06 |
NFe-8 |
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測量方式 |
渦電流式 |
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測量范圍 |
0～2.00mm |
0～600μm |
0～8mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm |
1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm |
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測量精度 （平滑表面） |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內(nèi) 101μm～2.00mm： ±2%以內(nèi) |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內(nèi) 101μm～600μm： ±2%以內(nèi) |
0～100μm:±1μm ±（±1μm＋顯示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以內(nèi) |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm
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1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm
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選擇產(chǎn)品 |
V形套頭/- |
－ |
－ |
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附屬品 |
標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用） |
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測量對象 |
鋁、銅等非磁性金屬底材 上的絕緣性皮膜等一般普 通測量物用。 |
鋁、銅等非磁性金屬底 材上的絕緣性皮膜等 細小的圓棒、細管、小 物件等的高安定性用。 |
鋁、銅等非磁性金屬 底材上的絕緣性皮膜等 比較厚的測量物用。 |
探測頭要根據(jù)需要另外購買。
