產品詳情
儀器型號: FESEM SU 8220
儀器廠家：日本Hitachi公司
儀器簡介：
場發射掃描電鏡
X-FEG 30kV 電子槍
加速電壓：0.1-30KV
分辨率：0.8nm(加速電壓15KV)
1.1nm(著陸電壓1KV，減速模式)
放大倍數：20~2000倍(低倍模式)，100~800000倍(高倍模式)
能譜儀：斜插式和平插式能譜儀EDAX SDD電制冷能譜探頭（能量分辨率優于129eV）
功能范圍:
FESEM SU8220顯微鏡是一款的高分辨率掃描電子顯微鏡，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。目前SU8200系列已成為全球各地杰出研究人員的掃描電子顯微鏡(SEM)，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、陶瓷氧化物、礦物、半導體、食品、農作物和化工產品等材料領域。既可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在微米、納米級樣品的表面特征，也可以進行化學成分像分布，微區化學成分分析顯微組織的研究。高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。
材料科學應用包括：
·材料的高分辨形貌分析
·顯微組織及超微尺寸材料的研究
·化學成分像分布，微區化學成分分析
·具有相分析、自動顆粒物分析以及形態學分析功能
·配備真空轉移裝置，可在不接觸空氣的環境中更換樣品
