產品詳情
用于高密度元件和電路板以及穿透絕緣
EXTECH TL747測試探頭組
一、EXTECH TL747 簡單介紹 ：
TL747電子夏普測試探頭套件適用于高密度元件和電路板，并用于穿透絕緣。它具有0.35英寸長的尖端和0.08英寸的直徑。該測試探頭組件的總長度為4英寸。套裝額定值為CAT III-1000V。
二、EXTECH TL747 規格特征 ：
1000V，6A最大
用于高密度元件和電路板以及穿透絕緣
EXTECH TL747測試探頭組
一、EXTECH TL747 簡單介紹 ：
TL747電子夏普測試探頭套件適用于高密度元件和電路板，并用于穿透絕緣。它具有0.35英寸長的尖端和0.08英寸的直徑。該測試探頭組件的總長度為4英寸。套裝額定值為CAT III-1000V。
二、EXTECH TL747 規格特征 ：
1000V，6A最大
0.35“（9mm）長尖，直徑0.08”（2mm）
4“（102mm）總長度
0.35“（9mm）長尖，直徑0.08”（2mm）
4“（102mm）總長度
