產品詳情
詳細介紹
產品介紹
LH3000FX圖像分析系統由光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用顆粒圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌，控制好產品質量。
應用領域
1、金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸鋇、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：
2、玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農藥、催化劑等各種粉體或漿料。
3、也可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
參數指標
|
序號 |
項目 |
指標 |
|
1 |
分析項目 |
粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
|
2 |
測試范圍 |
0.5～3000μm |
|
3 |
放大倍數 |
≤4000倍 |
|
4 |
光學放大倍數 |
1600倍 |
|
5 |
分辨率 |
≤0.1μm |
|
6 |
顯微鏡 |
透反射工業顯微鏡 |
|
7 |
數字攝像頭(CCD) |
1200萬像素/1800萬像素/2000萬像素 |
|
8 |
目鏡 |
10X 、16X |
|
9 |
物鏡 |
5X 、10X 、40X、 60X；選配20X、50X、80X、100X |
|
10 |
標尺刻度 |
10μm |
|
11 |
軟件運行環境 |
Windows7 32位 |
|
12 |
接口方式 |
USB接口高速穩定傳輸 |
實物設備現場圖
|
標準配置 |
|
|
部件 |
規格 |
|
光學系統 |
無限遠色差校正光學系統 |
|
觀察筒 |
三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換) |
|
目鏡 |
大視野 WF10X/22mm |
|
標配物鏡 （無限遠平場消色差物鏡） |
PL L5X/0.12 WD26.1 mm |
|
PL L10X/0.25 WD20.2mm |
|
|
PL L40X/0.60 WD3.98 mm |
|
|
PL L 60X/0.7 WD3.18 mm |
|
|
轉換器 |
五孔(內向式滾珠內定位) |
|
調焦機構 |
粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,粗動松緊可調，帶鎖緊和限位裝置 |
|
載物臺 |
雙層機械移動式載物臺,外形尺寸:210mmX140mm,移動范圍:63*50mm |
|
落射照明系統 |
6V30W鹵素燈，亮度可調，配置黃、藍、綠濾色片與磨砂玻璃片 |
|
內置視場光欄、孔徑光欄、濾色片轉換裝置、推拉式檢偏器與起偏器 |
|
|
透射照明系統 |
阿貝聚光鏡NA.1.25可上下升降 |
|
集光鏡中內置視場光欄,6V30W鹵素燈、亮度可調 |
|
|
成像系統 |
1200萬索尼芯片攝像裝置、0.5X適配鏡接口、測微尺，含顯微圖像軟件。 |
|
選配配置 |
|
|
部件 |
規格 |
|
目鏡 |
大視野WF10X/22mm，帶十字分化尺 |
|
選配物鏡 （無限遠平場消色差物鏡） |
PL L20X/0.40 WD8.80 mm |
|
PL L50X/0.70 WD3.68 mm |
|
|
PL L 80X/0.80 WD1.25 mm |
|
|
PL L100X/0.85 WD0.40 mm |
|
|
專用分析軟件 |
專用粒度分析軟件 |
|
電腦 |
品牌商務電腦 |
專用粒度分析軟件 －分析與處理功能
1.1 通過圖像分析軟件可直接觀察顯微鏡下的顆粒形貌，并進行圖片采集。圖片可保存為JPG或BMP格式；軟件采集圖像后可調整圖像高度、寬度、分辨率等。根據不同倍數物鏡采集的圖像可設置相應標尺或網格，直觀顆粒大小。
1.2 自由切換粒徑單位，標尺支持多種單位選擇，可在微米和毫米、厘米、英寸之間自由切換，方便小顆粒和大顆粒的進一步處理。
1.3 圖像分析處理
1.3.1 色調處理：灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
1.3.2 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針）、90度（順時針）、旋轉、放大、縮小、任意比例縮放等；
1.3.3 測量單位：微米、毫米、厘米、英吋（任選）；
1.3.4 圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
1.3.5 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，面積濾波、邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看等功能；
1.4 可以對多幅圖形進行批量處理，增加顆粒數量，提高樣品的代表性，使處理結果更加準確、真實、可靠。
1.5 軟件功能強大，可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。
2.報告輸出
2.1 通過對圖像進行處理后，電腦自動統計出顆粒個數、面積、周長、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布、粒度分布數據，以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。
2.2 可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中，樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭，可選多種報告格式。
